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芯片检测中的非破坏分析有哪些？
时间: 2023-07-20 15:17
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芯片检测中的非破坏分析有哪些？ 有超高分辨率数字显微镜(3D OM)、超声波扫瞄(SAT 检测）、X 射线检测(2D X-ray)、超高分辨率3D X-Ray 显微镜。苏试宜特累积20多年来的解决方案，协助您抓
芯片检测中的非破坏分析有哪些？
有超高分辨率数字显微镜(3D OM)、超声波扫瞄(SAT 检测）、X 射线检测(2D X-ray)、超高分辨率3D X-Ray 显微镜。苏试宜特累积20多年来的解决方案，协助您抓出失效点快又准。
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